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电子元器件切片分析
目的:随着科技水平的发展和工艺的进歩,电子产品越来越微型化、复杂化和系统化,而其功能却越来越强大,集成度越来越高,体积越...
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金属/非金属材料切片分析
目的:观察样品内部结构及缺陷分析、电镀工艺分析、切片后的样品可以用于观察形貌与分析成份,通过切片的方法来观察内部结构情况...
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三维立体成像X射线显微镜在元器件失效分析中的应用
在电子元器件失效分析中,工程师经常要借助各种分析设备或技术方法,找到导致元器件失效的“元凶”。其中非破坏性分析在失效分析...
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超声波扫描(SAM)
简介: 超声波显微镜 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称,又称为SAM (...
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CT检测/3D X-ray
简介:CT技术能准确快速地再现物体内部的三维立体结构,能够定量地提供物体内部的物理、力学等特性,如缺陷的位置及尺寸、密度...
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X-Ray检测
简介:X-Ray是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式...
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锡须观察与测量
背景:锡须是在纯锡或锡合金镀层表面自发生长出来的一种细长形状的锡的结晶。在电子线路中,锡须会引起短路,降低电子器件的可靠...
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电子显微形貌观察与测量
背景:材料表面的微观几何形貌特性在很大程度上影响着它的许多技术性能和使用功能,近年来随着科技的发展,对各种材料表面精度也...
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表面粗糙度分析
项目介绍:表面粗糙度是指加工表面具有的较小间距和峰谷所组成的微观几何形状误差。表面粗糙度越小,则表面越光滑。表面粗糙度一...
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